GORE? VNA 微波/射頻測試組件
戈爾的VNA微波射頻測試組件具有出色的電氣和機械性能,在彎曲時確保能夠?qū)崿F(xiàn)極為精確的可重復(fù)性測量。我們的組件結(jié)構(gòu)堅固、重量輕、柔性高,能夠延長使用壽命、減少停機時間,從而降低測試設(shè)備在使用壽命內(nèi)的運營成本。
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概況
電纜連續(xù)、頻繁移動會損害高性能矢量網(wǎng)絡(luò)分析儀 (VNA) 的測量精度。事實上,近期的研究表明,由于在安裝或運行過程中造成的損壞,全球超過75%的微波/射頻電纜組件需要經(jīng)常更換。
保證可重復(fù)性精確測量的穩(wěn)定性
GORE?VNA 微波/射頻測試組件為頻率到70 GHz的矢量網(wǎng)絡(luò)分析儀設(shè)立了行業(yè)標(biāo)準(zhǔn)。
GORE VNA 微波/射頻測試組件經(jīng)特殊設(shè)計,為實驗室測試提供最精確的 VNA 測量。在當(dāng)今市場上任何測試組件之中,該產(chǎn)品具有最高精度,而且重新校準(zhǔn)的時間間隔最長。
戈爾的組件可保持卓越的插入損耗和電壓駐波比(VSWR)。我們的所有組件在交貨前均進行測試,確保其在最高工作頻率下的回波損耗、插入損耗、相位穩(wěn)定性及損耗穩(wěn)定性。戈爾的測試方法模擬真實環(huán)境,確保組件能為您的應(yīng)用提供精確的可重復(fù)性測量。
我們的組件在彎曲時具有優(yōu)異的相位和幅度穩(wěn)定性,經(jīng)超過10萬個彎折周期測試驗證,能夠確保精確的可重復(fù)性測量。
選擇GORE VNA微波/射頻組件,可確保您的系統(tǒng)在整個使用壽命內(nèi)始終提供精確的可重復(fù)性測量。
應(yīng)用
GORE VNA 微波/射頻測試組件旨在為各種測試和測量應(yīng)用提供可靠的性能,包括:
- 矢量網(wǎng)絡(luò)分析儀
- 實驗室測試
- 關(guān)鍵測量
如果您有任何疑問或存在任何具體應(yīng)用需求,請聯(lián)系戈爾代表。
特性和優(yōu)點
GORE VNA微波/射頻測試組件具有多種特性,在嚴(yán)苛環(huán)境下更經(jīng)久耐用。這些特性包括:
- NMD 鎧裝連接器
- 抗擠壓性能大于 800 磅/英寸
- 在最小彎曲半徑下超過 5 萬次彎曲
- 抗扭曲
- 電纜回彈幾乎為零
GORE? VNA微波/射頻測試組件具有許多優(yōu)點,可幫助制造商提高電氣和機械性能,例如:
- 在更長距離內(nèi)保持可靠的信號完整性,損耗低,頻率最高到70 GHz
- 保持一致的相位和幅度穩(wěn)定性,提供可靠、可重復(fù)的電氣性能
- 柔性結(jié)構(gòu),彎曲半徑小,易于安裝
- 直徑小、重量輕,適用于更高密度應(yīng)用
- 提供多種互聯(lián)選擇,實現(xiàn)設(shè)計的靈活性
如需了解有關(guān)戈爾電纜的特性和優(yōu)點的更多信息,請聯(lián)系戈爾代表。
堅固耐用的結(jié)構(gòu)
視頻
相關(guān)資料
Data Sheet: GORE? VNA Microwave/RF Test Assemblies
Data Sheets, 596.46 KB
白皮書:選擇耐用微波/射頻電纜組件,確保長期可靠性能的關(guān)鍵指標(biāo)
白皮書, 912.83 KB
Gore Product Selection Guide for 5G Test Systems
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